電子・電気部品の開発競争はますます激しくなっており、短期間での製品開発からさらに短い期間での信頼性評価が求められています。その目的に対し、威力を発揮するのが、HAST試験（High Accelerated Stress Test）、つまり、高加速寿命試験です。
HAST(High Accelerated Stress Test)試験は100 ℃以上で水蒸気雰囲気を再現し、試験槽内の圧力を高めることで試料の内部への水分の侵入を促進し、耐湿性試験の加速寿命評価を行います。別名プレッシャークッカー(Pressure Cooker Test)とも呼ばれています。
電子機器関連の環境系信頼性試験で最も使用されている試験方法が不飽和(85%RH)プレッシャークッカー試験(HAST:High Accelerated Stress Test)です。この試験の目的は、電子機器関連の加速性を伴う耐湿性評価で、IEC60068-2-66で規定されます。
飽和(100％RH)条件下での試験は（一般に）プレッシャークッカー試験(PCT: Pressure Cooker Test)と呼ばれており、試験槽の水蒸気圧力をサンプル内部の水蒸気分圧よりも極度に高め、サンプル内部への水分の侵入を早めることができるため、不飽和条件より加速して耐湿性の評価が可能です。
HAST試験装置には一槽式と二層式がありますが、二層式試験装置は、試験槽と加湿槽が独立した構造であるため、一槽式に比べ広い槽内寸法の確保が可能です。また、試験槽(乾球)と加湿槽(湿球)間で及ぼしあう温度影響が少ないので高精度制御が可能と言われていますが、試験結果に大きな有意差は無いようです。
