電子・電気部品の開発競争はますます激しくなっており、短期間での製品開発からさらに短い期間での信頼性評価が求められています。その目的に対し、威力を発揮するものとして先回、HAST試験の紹介をしましたが、今回はHALT 試験とHASS 試験についてコメントします。HALT 試験は、Highly Accelerated Limit Test の略、HASS試験は、Highly Accelerated Stress Screen の略です。
HALT試験とは
・HALT試験(Highly Accelerated limit Test)は、製品に強いストレスをかけ壊れるまで試験することで、数日程度で製品の弱点を明らかにし、弱点を改善することで、結果的に信頼性の向上ができる定性的な加速試験方法です。
HALT試験では「故障が出なかった」ということは基本的になく、壊れるまで試験されることになります。使用環境を想定した試験ではなく、稼動限界と破壊限界を見極める過程で製品の最大の弱点を明確にすることで改善の参考とすることが目的の試験です。
HASS試験とは
・HASS(Highly Accelerated Stress Screen)試験は、製品の製造・検査工程の品質維持、管理を行うための試験で、試験条件は、HALTで得られた結果を基に決定します。
HASS試験はHALT試験で得られた限界試験データを元に、量産品の製造工程での変化やばらつき、潜在的不具合がないかを監視するためのスクリーニングシステムという位置づけでもあります。
（参考ブログ）
HAST試験、
